dor_id: 4121917

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Directory of Open Access Journals (DOAJ); Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB); Scientific Electronic Library Online (SciELO)

561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php

650.#.4.x: Multidisciplina

336.#.#.b: article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69649/61534

100.1.#.a: Calderón, Héctor A.

524.#.#.a: Calderón, Héctor A. (2020). Microscopía electrónica de transmisión para observar átomos: principios y desarrollo. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020: La dimensión nano en la microscopía electrónica; 133-156. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121917

245.1.0.a: Microscopía electrónica de transmisión para observar átomos: principios y desarrollo

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

264.#.0.c: 2020

264.#.1.c: 2020-07-02

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx

884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69649

001.#.#.#: 083.oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/69649

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: La microscopía electrónica es una herramienta importante en la caracterización de nanomateriales. En su modalidad de alta resolución, es posible obtener imágenes de las columnas de átomos que conforman una muestra o si el espesor es una monocapa, pueden obtenerse imágenes de átomos. Normalmente, el producto es una imagen con intensidades específicas, que para ser interpretado correctamente, se debe considerar la interacción del haz electrónico con la muestra. En este trabajo, se describen algunas características importantes de la microscopía electrónica de alta resolución y de resolución atómica. Asimismo, se proporcionan ejemplos de observaciones en materiales específicos. Se da atención especial a la interacción de los electrones con la muestra para obtener imágenes que reproduzcan la distribución atómica genuina y sin modificación por un haz electrónico demasiado intenso.

773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25 (2020): La dimensión nano en la microscopía electrónica; 133-156

773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

310.#.#.a: Semestral

300.#.#.a: Páginas: 133-156

264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69649

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856.#.0.q: application/pdf

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245.1.0.b: Transmission electron microscopy to look at atoms: principles and development

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