dor_id: 4121917

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884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69649

001.#.#.#: oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/69649

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: Electron microscopy is an important tool in characterizing nanomaterials. In its highresolution mode, it is possible to obtain images of the columns of atoms that make up a sample or if the thickness is a monolayer, images of atoms can be obtained. Normally the product image has specific intensities that require proper interpretation, there is a need to consider the electron beam interaction with the simple. In this work, some important characteristics of high resolution and atomic resolution electron microscopy are described. Examples are given with observations in different materials. The beam–sample interaction is given special attention in order to avoid sample damage by an intense beam. La microscopía electrónica es una herramienta importante en la caracterización de nanomateriales. En su modalidad de alta resolución, es posible obtener imágenes de las columnas de átomos que conforman una muestra o si el espesor es una monocapa, pueden obtenerse imágenes de átomos. Normalmente, el producto es una imagen con intensidades específicas, que para ser interpretado correctamente, se debe considerar la interacción del haz electrónico con la muestra. En este trabajo, se describen algunas características importantes de la microscopía electrónica de alta resolución y de resolución atómica. Asimismo, se proporcionan ejemplos de observaciones en materiales específicos. Se da atención especial a la interacción de los electrones con la muestra para obtener imágenes que reproduzcan la distribución atómica genuina y sin modificación por un haz electrónico demasiado intenso.

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773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

046.#.#.j: 2021-10-20 00:00:00.000000

020.#.#.a: ejemplar completo navegable||||||||||||||

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

310.#.#.a: Semestral

300.#.#.a: Páginas: 133-156

264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

758.#.#.1: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69649

856.#.0.q: application/pdf

file_creation_date: 2020-07-07 16:16:50.0

file_modification_date: 2020-07-07 16:16:56.0

file_name: b7f24dabeaa1df9556b1c5fb0a22c9b400bd059635b1d0d640bd8bd4f5c7a5b3.pdf

file_pages_number: 24

file_format_version: application/pdf; version=1.4

file_size: 4328354

245.1.0.b: Microscopía electrónica de transmisión para observar átomos: principios y desarrollo

last_modified: 2021-11-09 13:10:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc

No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Transmission electron microscopy to look at atoms: principles and development

Calderón, Héctor A.

Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, publicado en Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, y cosechado de Revistas UNAM

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Procedencia del contenido

Cita

Calderón, Héctor A. (2020). Transmission electron microscopy to look at atoms: principles and development. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020; 133-156. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121917

Descripción del recurso

Autor(es)
Calderón, Héctor A.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Multidisciplina
Título
Transmission electron microscopy to look at atoms: principles and development
Fecha
2020-07-02
Resumen
Electron microscopy is an important tool in characterizing nanomaterials. In its highresolution mode, it is possible to obtain images of the columns of atoms that make up a sample or if the thickness is a monolayer, images of atoms can be obtained. Normally the product image has specific intensities that require proper interpretation, there is a need to consider the electron beam interaction with the simple. In this work, some important characteristics of high resolution and atomic resolution electron microscopy are described. Examples are given with observations in different materials. The beam–sample interaction is given special attention in order to avoid sample damage by an intense beam. La microscopía electrónica es una herramienta importante en la caracterización de nanomateriales. En su modalidad de alta resolución, es posible obtener imágenes de las columnas de átomos que conforman una muestra o si el espesor es una monocapa, pueden obtenerse imágenes de átomos. Normalmente, el producto es una imagen con intensidades específicas, que para ser interpretado correctamente, se debe considerar la interacción del haz electrónico con la muestra. En este trabajo, se describen algunas características importantes de la microscopía electrónica de alta resolución y de resolución atómica. Asimismo, se proporcionan ejemplos de observaciones en materiales específicos. Se da atención especial a la interacción de los electrones con la muestra para obtener imágenes que reproduzcan la distribución atómica genuina y sin modificación por un haz electrónico demasiado intenso.
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

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