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Artículo

Thin-film transistors based on zinc oxide films by ultrasonic spray pyrolysis

Dominguez Jimenez, M. A.; Flores Gracia, F.; Luna Flores, A.; Martinez Juarez, J.; Luna Lopez, J. A.; Alcantara Iniesta, S.; Rosales Quintero, P.; Reyes Betanzo, C.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Dominguez Jimenez, M. A., et al. (2015). Thin-film transistors based on zinc oxide films by ultrasonic spray pyrolysis. Revista Mexicana de Física; Vol 61, No 2 Mar-Apr: 123-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4106943

Descripción del recurso

Autor(es)
Dominguez Jimenez, M. A.; Flores Gracia, F.; Luna Flores, A.; Martinez Juarez, J.; Luna Lopez, J. A.; Alcantara Iniesta, S.; Rosales Quintero, P.; Reyes Betanzo, C.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Thin-film transistors based on zinc oxide films by ultrasonic spray pyrolysis
Fecha
2015-01-01
Resumen
The application of Zinc Oxide (ZnO) films by ultrasonic spray pyrolysis at 250, 300 and 450\∘ C as active layer in thin-film Transistors (TFTs) is presented. The performance of the devices shows an unexpected behavior in function of the deposition temperature. The ZnO films were deposited from 0.2 M precursor solution of Zinc acetate in methanol, using air as carrier gas. 70nm-thick ZnO was deposited over 100 nm-thick aluminum electrodes patterned on 50 nm-thick thermally grown SiO 2on highly doped Si wafers. The highly doped Si wafer was used as the gate electrode. The ZnO TFTs at 250\∘ C showed field-effect mobilities around of 0.05 cm2Vs and threshold voltages of 8 V.
Tema
ZnO; electrical properties; thin film transistors
Idioma
eng
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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