dor_id: 41713

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3692/3659

100.1.#.a: Montejano Carrizales, J. M.; Guirado López, R. A.; Rodríguez López, J. L.; Morán López, J. L.

524.#.#.a: Montejano Carrizales, J. M., et al. (2009). The geometrical characteristics of fcc, hcp, and polycrystalline nanowires: simulations of transmission electron microscopy images and diffraction patterns. Revista Mexicana de Física; Vol 55, No 4: 298-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41713

245.1.0.a: The geometrical characteristics of fcc, hcp, and polycrystalline nanowires: simulations of transmission electron microscopy images and diffraction patterns

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2009

264.#.1.c: 2009-01-01

653.#.#.a: Nanowires; fcc nanostructures; hcp nanostructures; TEM simulations; diffraction patterns

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2009-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3692

001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/3692

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: To theoretically study the physicochemical properties of nanowires, it is necessary to build the corresponding atomic geometrical models. Here we present the geometrical characteristics of nanowires with fcc, hcp, and polycrystalline structures. We consider fcc and hcp wires grown along the (111) and z axis directions, respectively, with various diameters and lengths. In addition, since staking faults in these systems are very common, we analyze also the case of nanowires formed by stacked pieces having different crystalline structures and orientations, a fact that leads to the formation of several internal interfaces. By performing simulations of transmission electron microscopy (TEM) images and diffraction patterns of the nanowires considered here, we reveal how sensitive are the calculated images to the defocus condition as well as to the orientation of the wire with respect to the incident beam, a result that must be taken into account in order to better understand the measured data.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 55, No 4 (2009): 298-0

773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

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856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

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No entro en nada

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