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773.1.#.o: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf

handle: 0c22d6d192c28bc7

harvesting_date: 2020-09-23 00:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-nd

_deleted_conflicts: 6-b7304c99bd6c2f1dc80799cabb9ce8f8,2-cc45c8bfdd7a8fcd182f36844269e8e3

No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Structural properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)0.90Ti1.10O3 films deposited by pulsed laser ablation on titanium nitride subtrates

Blanco, O.; Sequeiros, J. M.; Martínez, E.; Fundora, A.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Procedencia del contenido

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Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Blanco, O., et al. (2008). Structural properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)0.90Ti1.10O3 films deposited by pulsed laser ablation on titanium nitride subtrates. Revista Mexicana de Física; Vol 54, No 001. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41459

Descripción del recurso

Autor(es)
Blanco, O.; Sequeiros, J. M.; Martínez, E.; Fundora, A.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Structural properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)0.90Ti1.10O3 films deposited by pulsed laser ablation on titanium nitride subtrates
Fecha
2008-01-01
Resumen
Pulsed laser ablation is used to deposit Pb(Mg1/3Nb2/3)0.90Ti0.10O3 (PMNT) polycrystalline thin films on TiN bottom electrodes, which in turn are prepared by DC sputtering on Si wafers. The PMNT perovskite phase formation is confirmed by x-ray diffraction analysis. The morphology of the films is analyzed by scanning electron microscopy. The nature of the ferroelectric layer-electrode interface is studied by transmission electron microscopy. The effect of the characteristics of the interface in the performance of the multilayer system is also studied. The characteristics of the TiN films, used as electrodes, are evaluated using Auger electron spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy. Finally, a model for the PMNT/TiN/SiO2/Si film system thus obtained is proposed.
Tema
Ferroelectric thin films; PMNT; pulsed laser ablation; titanium nitride
Idioma
eng
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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