dor_id: 41463

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3596/3563

100.1.#.a: Santiago Tepantlán, C.; Pérez González, A. M.; Valeriano Arreola.

524.#.#.a: Santiago Tepantlán, C., et al. (2008). Structural, optical and electrical properties of CdS thin films obtained by spray pyrolysis. Revista Mexicana de Física; Vol 54, No 2: 112-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41463

245.1.0.a: Structural, optical and electrical properties of CdS thin films obtained by spray pyrolysis

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2008

264.#.1.c: 2008-01-01

653.#.#.a: CdS thin films; spray pyrolysis; structural properties; optical properties; electrical properties

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2008-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3596

001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/3596

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: Cadmium sulphide (CdS) thin films were prepared by means of the chemical spray pyrolysis technique. The substrate temperature was varied in the range from 200 to 400\∘ C. The structural properties of the semiconductor were characterized by X-ray diffraction; XRD patterns indicated the presence of single-phase hexagonal CdS. Direct band gap values of 2.37-2.41 eV were obtained. The refractive index is reported on depending on the substrate temperature, and was obtained from transmission spectra and from spectroellipsometry measurements. As a consequence, the optical parameters of the films were determined using the Swanepoel, Cauchy, Sellmeier and Wemple models. The resistivity of the films was found to vary in the range 103 -105\Ω .cm, depending on the substrate temperature.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 54, No 2 (2008): 112-0

773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

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856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

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No entro en nada

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