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No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador

Dabirian, Reza; Wang, Wei Min; Loza Matovelle, David; Hwu, En Te

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Procedencia del contenido

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Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Dabirian, Reza, et al. (2015). Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador. Revista Mexicana de Física; Vol 61, No 4 Jul-Aug: 238-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4107728

Descripción del recurso

Autor(es)
Dabirian, Reza; Wang, Wei Min; Loza Matovelle, David; Hwu, En Te
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador
Fecha
2015-01-01
Resumen
En este artículo se presenta un sistema de detección astigmático (ADS), basada en una unidad de lectura óptica digital (OPU) del disco compacto (CD/DVD). Este sistema de detección astigmático puede alcanzar una resolución mejor que 0.3 nm en la detección del desplazamiento vertical y se puede detectar la inclinación angular de dos dimensiones de la superficie del objeto. También, se ha presentado un novedoso diseño para un escáner zumbador. El escáner se compone de una estructura de accionamiento de cuatro-barras y varios zumbador espiezoeĺectricos de disco. El escáner zumbador se puede accionar con voltajes bajos como los de las tarjetas de adquisición de datos (DAQ)y permite un alcance de barrido suficiente de hasta 15πm. Por lo tanto, el costo de construir un AFM puede reducirse significativamente juntando las dos técnicas. A partir de las dos técnicas anteriores, se construyó un AFM económico de alto rendimiento, utilizando el escáner zumbador para mover la muestra y un OPU para detectar la resonancia mecánica de un cantiléver micro fabricado. Evaluamos el desempeño del AFM. La alta sensibilidad y gran ancho de banda del sistema de detección hace que el equipo sea apropiado para la caracterización de elementos a escala nanométrica. Un AFM usando nuestro sistema de detección para detectar la deflexión del cantiléver micro fabricado, puede resolver pasos atómicos individuales en superficies de grafito.
Tema
Microscopía de fuerza atómica (AFM); nano-metrología; unidad lectura digital de DVD; escáner-zumbador
Idioma
spa
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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