dor_id: 4121900

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Directory of Open Access Journals (DOAJ); Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB); Scientific Electronic Library Online (SciELO)

561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php

650.#.4.x: Multidisciplina

336.#.#.b: article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69636/61533

100.1.#.a: Esparza Muñoz, Rodrigo

524.#.#.a: Esparza Muñoz, Rodrigo (2020). Resolución atómica de elementos ligeros utilizando HAADF y ABF-STEM con corrección de Cs y bajo voltaje. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020: La dimensión nano en la microscopía electrónica; 45-60. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121900

245.1.0.a: Resolución atómica de elementos ligeros utilizando HAADF y ABF-STEM con corrección de Cs y bajo voltaje

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

264.#.0.c: 2020

264.#.1.c: 2020-07-02

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx

884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69636

001.#.#.#: 083.oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/69636

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: Microscopía electrónica de transmisión/barrido (STEM) ofrece información estructural y química del orden de 0.1 nm de resolución espacial, tal resolución es llevada a cabo mediante el corrector de aberración esférica. En el STEM, un haz de electrones es enfocado y escaneado sobre la muestra, por lo que la imagen es formada midiendo la señal electrónica que surge después de las interacciones electrones-muestra. La señal de los electrones dispersados puede ser empleada para obtener imágenes de campo claro y campo obscuro. El microscopio STEM es un poderoso instrumento para estudiar las propiedades físicas de las nanoestructuras, que requieren de un análisis estructural y químico a nivel atómico. Por lo tanto, STEM es una técnica capaz de identificar la posición de los átomos y las columnas atómicas. En este trabajo, los parámetros instrumentales básicos del microscopio antes de sus aplicaciones fueron evaluados. Además, imágenes experimentales de campo oscuro anular de alto ángulo (HAADF)-STEM y campo claro anular (ABF)-STEM de una muestra de LaAlO3 fueron obtenidas a bajos voltajes de operación y comparadas con imágenes simuladas obtenidas con el método de multicapas. Se encontró que las imágenes simuladas coinciden bien con las imágenes experimentales.

773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25 (2020): La dimensión nano en la microscopía electrónica; 45-60

773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

310.#.#.a: Semestral

300.#.#.a: Páginas: 45-60

264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69636

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856.#.0.q: application/pdf

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245.1.0.b: Atomic resolution imaging of light elements using low voltage Cs-corrected HAADF and ABF-STEM

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