Propiedades óptica y eléctrica de películas delgadas de nitruro de cobre y nitruro de cobre dopado con metales
Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, Portal de Datos Abiertos UNAM, Colecciones Universitarias
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506.#.#.a: Público
650.#.4.x: Biotecnología y Ciencias Agropecuarias
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336.#.#.a: Registro de colección universitaria
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100.1.#.a: Wencel José de la Cruz Hernández
524.#.#.a: Dirección de Desarrollo Académico, Dirección General de Asuntos del Personal Académico (DGAPA). "Propiedades óptica y eléctrica de películas delgadas de nitruro de cobre y nitruro de cobre dopado con metales", Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT). En "Portal de datos abiertos UNAM" (en línea), México, Universidad Nacional Autónoma de México.
720.#.#.a: Wencel José de la Cruz Hernández
245.1.0.a: Propiedades óptica y eléctrica de películas delgadas de nitruro de cobre y nitruro de cobre dopado con metales
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653.#.#.a: Películas delgadas; Materiales
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de este recurso digital pertenece a la Universidad Nacional Autónoma de México. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2009, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de contacto@dgru.unam.mx
041.#.7.h: spa
500.#.#.a: En este trabajo se va a realizar un estudio sobre el comportamiento óptico y eléctrico que ofrecen las películas delgadas de nitruro de cobre dopadas con plata o con oro sobre substratos de vidrio y silicio. La técnica de depósito que será utilizada para el crecimiento de las películas delgadas será la de codepósito por pulverización catódica reactiva con magnetrón DC. El estudio óptico y eléctrico se realizarán por medio de una caracterización óptica y eléctrica con ayuda de la espectrometría Uv-vis y la técnica de Van der Pauw respectivamente, la caracterización óptica del Uv-Vis será complementada a la región de rayos x suaves y ultravioleta extremo haciendo uso de la espectroscopía de pérdida de energía electrónica. Por otro lado, se realizará la caracterización de las películas delgadas mediante las técnicas espectroscopía de electrones Auger (AES) y la espectroscopía de electrones fotoemitidos (XPS) con el fin de conocer la estequiometría de las películas formadas; difracción de rayos X (XRD) para obtener las fases cristalográficas presentes en las películas delgadas.
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last_modified: 2019-11-22 00:00:00
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Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, Portal de Datos Abiertos UNAM, Colecciones Universitarias
Dirección de Desarrollo Académico, Dirección General de Asuntos del Personal Académico (DGAPA). "Propiedades óptica y eléctrica de películas delgadas de nitruro de cobre y nitruro de cobre dopado con metales", Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT). En "Portal de datos abiertos UNAM" (en línea), México, Universidad Nacional Autónoma de México.