Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films
Lohvinov, H.; Gurevich, Y.; Titov.
Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM
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506.#.#.a: Público
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561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/
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351.#.#.b: Revista Mexicana de Física
351.#.#.a: Artículos
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850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
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100.1.#.a: Lohvinov, H.; Gurevich, Y.; Titov.
524.#.#.a: Lohvinov, H., et al. (2003). Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films. Revista Mexicana de Física; Vol 49, No 5: 482-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41168
245.1.0.a: Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
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264.#.0.c: 2003
264.#.1.c: 2003-01-01
653.#.#.a: Semiconductors film; electron temperature; cooling length; size effects; nonlinear electric conductivity
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884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3198
001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/3198
041.#.7.h: eng
520.3.#.a: Theory of nonlinear heat size effects is developed in semiconductor films in the presence of external d.c. electric field. It is supposed that this field is applied along the film surfaces. The electron temperature is introduced, and it is shown that it depends on the electric field and the film thickness. The main equations are obtained for calculation this temperature, and analysis is done for the case of the weak electron heating. The characteristic length of the problem is discussed. It is the electron cooling length measured on submicron scale. It is shown that the heat size effects arise in the case when this length is comparable or less of the film thickness.
773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 49, No 5 (2003): 482-0
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310.#.#.a: Bimestral
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Lohvinov, H.; Gurevich, Y.; Titov.
Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM
Lohvinov, H., et al. (2003). Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films. Revista Mexicana de Física; Vol 49, No 5: 482-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41168