dor_id: 41168

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)

561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

351.#.#.b: Revista Mexicana de Física

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3198/3166

100.1.#.a: Lohvinov, H.; Gurevich, Y.; Titov.

524.#.#.a: Lohvinov, H., et al. (2003). Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films. Revista Mexicana de Física; Vol 49, No 5: 482-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41168

245.1.0.a: Nonlinear size effects of hot electrons in semiconductor thin films

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM

264.#.0.c: 2003

264.#.1.c: 2003-01-01

653.#.#.a: Semiconductors film; electron temperature; cooling length; size effects; nonlinear electric conductivity

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2003-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx

884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/3198

001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/3198

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: Theory of nonlinear heat size effects is developed in semiconductor films in the presence of external d.c. electric field. It is supposed that this field is applied along the film surfaces. The electron temperature is introduced, and it is shown that it depends on the electric field and the film thickness. The main equations are obtained for calculation this temperature, and analysis is done for the case of the weak electron heating. The characteristic length of the problem is discussed. It is the electron cooling length measured on submicron scale. It is shown that the heat size effects arise in the case when this length is comparable or less of the film thickness.

773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 49, No 5 (2003): 482-0

773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000

022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

758.#.#.1: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index

handle: 7e348cd14fc8fe58

harvesting_date: 2020-09-23 00:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

last_modified: 2020-11-27 00:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-nd

_deleted_conflicts: 6-e7155f257a755ae8c9446a573571b968,2-9ebe056176d7740db95990ebcb193212

No entro en nada

No entro en nada 2