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506.#.#.a: Público

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506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx

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No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art

Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel

Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, publicado en Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Mendoza Ramirez, Miriam Carolina, et al. (2020). Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020: La dimensión nano en la microscopía electrónica; 61-78. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121888

Descripción del recurso

Autor(es)
Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Multidisciplina
Título
Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art
Fecha
2020-07-02
Resumen
The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason, the Transmission Electron Microscopy (TEM) scope is described in a didactic way on several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films), for illustrating the use of the most remarkable TEM techniques. Throughout this work, conventional TEM techniques such as Bright Field (BF), Dark Field (DF), High Angle Annular Dark Feld (HAADF), Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) are described, emphasizing the differences with less conventional techniques such as Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Large Angle Convergent Beam Electron Diffraction (LACBED) and Precession Electron Diffraction (PED). Also some practical suggestions are given for describing in a simple way the typical contrast found using different TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico.
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

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