dor_id: 4121888

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Directory of Open Access Journals (DOAJ), Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB), Scientific Electronic Library Online (SciELO)

561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php

650.#.4.x: Multidisciplina

336.#.#.b: article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural, UNAM

883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69630/61532

100.1.#.a: Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel

524.#.#.a: Mendoza Ramirez, Miriam Carolina, et al. (2020). Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020; 61-78. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121888

245.1.0.a: Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

264.#.0.c: 2020

264.#.1.c: 2020-07-02

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2020-07-02, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx

884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69630

001.#.#.#: oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/69630

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Para ilustrar el uso de las técnicas TEM, se utilizaron nanopartículas de Au y películas de Si adelgazadas con iones.Se describen técnicas de estudio convencional en TEM, como campo claro (BF), camp obscuro (DF), HAADF, SAED y EELS; además se mencionan las ventajas que ofrece el empleo de técnicas menos convencionales como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en las distintas técnicas disponibles en el TEM con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopia electrónica en México. The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason, the Transmission Electron Microscopy (TEM) scope is described in a didactic way on several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films), for illustrating the use of the most remarkable TEM techniques. Throughout this work, conventional TEM techniques such as Bright Field (BF), Dark Field (DF), High Angle Annular Dark Feld (HAADF), Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) are described, emphasizing the differences with less conventional techniques such as Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Large Angle Convergent Beam Electron Diffraction (LACBED) and Precession Electron Diffraction (PED). Also some practical suggestions are given for describing in a simple way the typical contrast found using different TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico.

773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25 (2020); 61-78

773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

046.#.#.j: 2021-10-20 00:00:00.000000

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

310.#.#.a: Semestral

300.#.#.a: Páginas: 61-78

264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM

758.#.#.1: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index

doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630

856.#.0.q: application/pdf

file_creation_date: 2020-06-28 01:00:31.0

file_modification_date: 2020-06-28 01:00:34.0

file_name: 1a271d255ad64f2ef60d4190fd64f99d6fec5444a8cf8105c532eaa2a99584e4.pdf

file_pages_number: 18

file_format_version: application/pdf; version=1.4

file_size: 2207223

245.1.0.b: Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art

last_modified: 2021-11-09 13:10:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc

No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte

Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel

Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, publicado en Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Mendoza Ramirez, Miriam Carolina, et al. (2020). Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020; 61-78. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121888

Descripción del recurso

Autor(es)
Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Multidisciplina
Título
Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte
Fecha
2020-07-02
Resumen
En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Para ilustrar el uso de las técnicas TEM, se utilizaron nanopartículas de Au y películas de Si adelgazadas con iones.Se describen técnicas de estudio convencional en TEM, como campo claro (BF), camp obscuro (DF), HAADF, SAED y EELS; además se mencionan las ventajas que ofrece el empleo de técnicas menos convencionales como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en las distintas técnicas disponibles en el TEM con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopia electrónica en México. The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason, the Transmission Electron Microscopy (TEM) scope is described in a didactic way on several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films), for illustrating the use of the most remarkable TEM techniques. Throughout this work, conventional TEM techniques such as Bright Field (BF), Dark Field (DF), High Angle Annular Dark Feld (HAADF), Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) are described, emphasizing the differences with less conventional techniques such as Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Large Angle Convergent Beam Electron Diffraction (LACBED) and Precession Electron Diffraction (PED). Also some practical suggestions are given for describing in a simple way the typical contrast found using different TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico.
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

Enlaces