dor_id: 4121888
506.#.#.a: Público
590.#.#.d: Los artículos enviados a Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares
510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Directory of Open Access Journals (DOAJ), Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB), Scientific Electronic Library Online (SciELO)
561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php
650.#.4.x: Multidisciplina
336.#.#.b: article
336.#.#.3: Artículo de Investigación
336.#.#.a: Artículo
351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología
351.#.#.a: Artículos
harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
270.1.#.d: México
590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/
883.#.#.a: Revistas UNAM
590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural, UNAM
883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/
883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM
850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69630/61532
100.1.#.a: Mendoza Ramirez, Miriam Carolina; Avalos Borja, Miguel
524.#.#.a: Mendoza Ramirez, Miriam Carolina, et al. (2020). Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25, 2020; 61-78. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4121888
245.1.0.a: Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
264.#.0.c: 2020
264.#.1.c: 2020-07-02
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2020-07-02, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx
884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/69630
001.#.#.#: oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/69630
041.#.7.h: spa
520.3.#.a: En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Para ilustrar el uso de las técnicas TEM, se utilizaron nanopartículas de Au y películas de Si adelgazadas con iones.Se describen técnicas de estudio convencional en TEM, como campo claro (BF), camp obscuro (DF), HAADF, SAED y EELS; además se mencionan las ventajas que ofrece el empleo de técnicas menos convencionales como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en las distintas técnicas disponibles en el TEM con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopia electrónica en México. The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason, the Transmission Electron Microscopy (TEM) scope is described in a didactic way on several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films), for illustrating the use of the most remarkable TEM techniques. Throughout this work, conventional TEM techniques such as Bright Field (BF), Dark Field (DF), High Angle Annular Dark Feld (HAADF), Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) are described, emphasizing the differences with less conventional techniques such as Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Large Angle Convergent Beam Electron Diffraction (LACBED) and Precession Electron Diffraction (PED). Also some practical suggestions are given for describing in a simple way the typical contrast found using different TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico.
773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 13 Núm. 25 (2020); 61-78
773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
046.#.#.j: 2021-10-20 00:00:00.000000
022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979
310.#.#.a: Semestral
300.#.#.a: Páginas: 61-78
264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
758.#.#.1: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630
856.#.0.q: application/pdf
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245.1.0.b: Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art
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