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No entro en nada 2

Artículo

Medición de temperatura usando un VCO integrado en silicio

Montoya Suárez.; Sandoval Ibarra F.; Ortega Cisneros, S.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Entidad o dependencia
Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Montoya Suárez., et al. (2011). Medición de temperatura usando un VCO integrado en silicio. Revista Mexicana de Física; Vol 57, No 6: 535-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41743

Descripción del recurso

Autor(es)
Montoya Suárez.; Sandoval Ibarra F.; Ortega Cisneros, S.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Medición de temperatura usando un VCO integrado en silicio
Fecha
2011-01-01
Resumen
La frecuencia de oscilación f0 de un VCO current-starved es usada para sensar temperatura en el rango de 20 a 99ºC. Debido a que la frecuencia f0 es directamente proporcional a la corriente de cortocircuito de la celda básica de construcción (compuerta NOT), y considerando que esta corriente, ISHORT, es directamente proporcional a la movilidad de portadores, es posible explicar cómo es que f0 varía con cambios en la temperatura, T. El diseño del oscilador, manufacturado en una tecnología CMOS, pozo N, 0.5 μm, 5V, permite su integración con circuitos digitales de acondicionamiento cuyo principio básico de operación es la medición de la frecuencia en intervalos de 53 ms; esta ventana de tiempo es resultado del ajuste lineal (con un coeficiente de correlación r=0.996) aplicado a la característica f0 vs. T.
Tema
Osciladores; teoría de circuitos; mediciones eléctricas; dispositivos de efecto de campo
Idioma
spa
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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