Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC
Chigo Anota, Ernesto
Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM
dor_id: 41696
506.#.#.a: Público
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650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
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336.#.#.3: Artículo de Investigación
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351.#.#.6: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf
351.#.#.b: Revista Mexicana de Física
351.#.#.a: Artículos
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850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
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100.1.#.a: Chigo Anota, Ernesto
524.#.#.a: Chigo Anota, Ernesto. (2011). Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC. Revista Mexicana de Física; Vol 57, No 004. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41696
245.1.0.a: Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM
264.#.0.c: 2011
264.#.1.c: 2011-08-15
653.#.#.a: Carburo De Silicio; Extremo Zig-zag; Extremo Armchair; Teoría Dft
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2011-08-15, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx
884.#.#.k: http://revistas.unam.mx/index.php/rmf/article/view/26639
041.#.7.h: spa
520.3.#.a: Se analiza el efecto de la geometría en las propiedades electrónicas de la hoja de carburo de silicio (SiC) usando para ello la Teoría del Funcional de la Densidad a nivel de la Aproximación de la Densidad Local (LDA), usamos un modelo de cúmulo rectangular (Si12C12H12) y triangular (Si12C12H10) para representar a la hoja con extremo tipo arcmchair y zig-zag, respectivamente. La estabilidad estructural se logra obteniendo frecuencias de vibración positivas, indicando los resultados que los dos modelos son estables con comportamiento electrónico en el rango de semiconductores (2.75 eV para la triangular y 1.15 eV para la rectangular) y con polaridad baja (12×10-3 Debye) para el caso triangular y para el arreglo rectangular presenta alta polaridad (5271.7×10-3 Debye). Por otro lado, cuando dicha hoja rectangular es dopada con un átomo de nitrógeno presenta estabilidad estructural (cuando se sustituye un C por un N), además presenta una transición semiconductor-semimetal y alta polaridad (6328.7×10-3 Debye) análoga con la hoja sin dopaje.
773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 57, No 004 (2011)
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022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)
310.#.#.a: Bimestral
264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.
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Chigo Anota, Ernesto
Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM
Chigo Anota, Ernesto. (2011). Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC. Revista Mexicana de Física; Vol 57, No 004. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41696