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No entro en nada 2

Artículo

Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC

Chigo Anota, Ernesto

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Facultad de Ciencias, UNAM
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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Chigo Anota, Ernesto. (2011). Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC. Revista Mexicana de Física; Vol 57, No 004. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41696

Descripción del recurso

Autor(es)
Chigo Anota, Ernesto
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Influencia de la geometría y dopaje en las propiedades electrónicas de la hoja SiC
Fecha
2011-08-15
Resumen
Se analiza el efecto de la geometría en las propiedades electrónicas de la hoja de carburo de silicio (SiC) usando para ello la Teoría del Funcional de la Densidad a nivel de la Aproximación de la Densidad Local (LDA), usamos un modelo de cúmulo rectangular (Si12C12H12) y triangular (Si12C12H10) para representar a la hoja con extremo tipo arcmchair y zig-zag, respectivamente. La estabilidad estructural se logra obteniendo frecuencias de vibración positivas, indicando los resultados que los dos modelos son estables con comportamiento electrónico en el rango de semiconductores (2.75 eV para la triangular y 1.15 eV para la rectangular) y con polaridad baja (12×10-3 Debye) para el caso triangular y para el arreglo rectangular presenta alta polaridad (5271.7×10-3 Debye). Por otro lado, cuando dicha hoja rectangular es dopada con un átomo de nitrógeno presenta estabilidad estructural (cuando se sustituye un C por un N), además presenta una transición semiconductor-semimetal y alta polaridad (6328.7×10-3 Debye) análoga con la hoja sin dopaje.
Tema
Carburo De Silicio; Extremo Zig-zag; Extremo Armchair; Teoría Dft
Idioma
spa
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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