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022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.

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Artículo

Growth and characterization of β-InN films on MgO: the key role of a β-GaN buffer layer in growing cubic InN

Pérez Caro, M.; Rodríguez, A. G.; López Luna, E.; Vidal, M. A.; Navarro Contreras, H.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Pérez Caro, M., et al. (2012). Growth and characterization of β-InN films on MgO: the key role of a β-GaN buffer layer in growing cubic InN. Revista Mexicana de Física; Vol 58, No 002. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41765

Descripción del recurso

Autor(es)
Pérez Caro, M.; Rodríguez, A. G.; López Luna, E.; Vidal, M. A.; Navarro Contreras, H.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Growth and characterization of β-InN films on MgO: the key role of a β-GaN buffer layer in growing cubic InN
Fecha
2012-05-09
Resumen
Cubic InN samples were grown on MgO (001) substrates by gas source molecular beam epitaxy (GSMBE). In general, we find that InN directly deposited onto the MgO substrate results in polycrystalline or columnar films of hexagonal symmetry. We find that adequate conditions to grow the cubic phase of this compound require the growth of an initial cubic GaN buffer interlayer (β-tGaN) on the MgO surface. Subsequently, the growth conditions were optimized to obtain good photoluminescence (PL) emission. The resultant InN growth is mostly cubic, with very small hexagonal inclusions, as confirmed by X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) studies. Good crystalline quality requires that the samples to be grown under rich Indium metal flux. The cubic β-tInN/GaN/MgO samples exhibit a high signal to noise ratio for PL at low temperatures (20 K). The PL is centered at 0.75 eV and persists at room temperature.
Tema
A3; Molecular beam epitaxy; B2; semiconducting III V; materials B1; nitrides; cubic indium nitride
Idioma
eng
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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