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850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

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100.1.#.a: Solache Carranco, H.; Juárez Díaz, G.; Martínez Juárez, J.; Peña Sierra, R.

524.#.#.a: Solache Carranco, H., et al. (2009). Estudio de la cristalización de Cu2O y su caracterización por difracción de rayos X, espectroscópica Raman y fotoluminiscencia. Revista Mexicana de Física; Vol 55, No 5: 393-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41566

245.1.0.a: Estudio de la cristalización de Cu2O y su caracterización por difracción de rayos X, espectroscópica Raman y fotoluminiscencia

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

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264.#.1.c: 2009-01-01

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Artículo

Estudio de la cristalización de Cu2O y su caracterización por difracción de rayos X, espectroscópica Raman y fotoluminiscencia

Solache Carranco, H.; Juárez Díaz, G.; Martínez Juárez, J.; Peña Sierra, R.

Facultad de Ciencias, UNAM, publicado en Revista Mexicana de Física, y cosechado de Revistas UNAM

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Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

Cita

Solache Carranco, H., et al. (2009). Estudio de la cristalización de Cu2O y su caracterización por difracción de rayos X, espectroscópica Raman y fotoluminiscencia. Revista Mexicana de Física; Vol 55, No 5: 393-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/41566

Descripción del recurso

Autor(es)
Solache Carranco, H.; Juárez Díaz, G.; Martínez Juárez, J.; Peña Sierra, R.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
Título
Estudio de la cristalización de Cu2O y su caracterización por difracción de rayos X, espectroscópica Raman y fotoluminiscencia
Fecha
2009-01-01
Resumen
Se reportan los resultados de la cristalización de óxido cuproso (Cu2O) por el método de cristalización secundaria de sustratos de óxido de cobre policristalino en atmósfera de aire seco. El método consiste de dos etapas; en la primera se oxidan placas de cobre policristalino a 1020ºC por algunas horas acorde con su espesor, en la segunda se promueve el crecimiento de los cristalitos por recocido térmico a temperaturas de ~1100ºC por varias decenas de horas. Se estudió la cinética de crecimiento de los cristales, y las muestras de Cu2O se caracterizaron por difracción de rayos-X (DRX), espectroscópica Raman y fotoluminiscencia (FL) en función de las condiciones de cristalización. Los resultados de la caracterización por Raman y DRX indican que en las muestras sólo existe la fase Cu2O. Las mediciones de FL para el intervalo de temperaturas de 10 a 180K permitieron identificar las principales vías de recombinación radiativa. Además de la transición excitónica Xº en 610 nm se detectaron tres bandas en 720, 810 y 920 nm generadas por recombinación de excitones ligados en vacancias de cobre y oxígeno. Las transiciones generadas por recombinación de excitones ligados a vacancias se modifican de acuerdo a la duración del proceso de cristalización.
Tema
Cu2O; cristalización; óxidos semiconductores; difracción de rayos X; espectroscópica Raman; fotoluminiscencia
Idioma
spa
ISSN
2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)

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