dor_id: 4142570

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

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561.#.#.u: https://iibi.unam.mx/

650.#.4.x: Ciencias Sociales y Económicas

336.#.#.b: article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

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351.#.#.b: Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

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883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/

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590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

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264.#.0.c: 2017

264.#.1.c: 2018-01-19

653.#.#.a: estudio patentométrico de innovaciones tecnológicas; redes de dominios tecnológicos; indicadores de colaboración tecnológica; Patentometric studies of technological innovations; Technological domain networks; Technological collaboration indicators

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico drevista@iibi.unam.mx

884.#.#.k: http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/article/view/57893

001.#.#.#: 070.oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/57893

041.#.7.h: spa

520.3.#.a: Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplicados óptimamente por todos los países, ni por todos los organismos internacionales, tampoco son aprovechadas todas las potencialidades que ofrecen estos estudios para conocer los diferentes contextos de las innovaciones tecnológicas de un país. Este artículo tiene como objetivo analizar el comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba, aplicando una metodo logía propia que describe las principales innovaciones científico-tecnológicas patentadas por la Oficina Cubana de Propiedad Industrial. La metodología propuesta utiliza el software proIntec para la descarga, normalización, procesamiento, análisis y visualización de los datos procedentes de las patentes, y se aplica un amplio grupo de indicadores métricos relacionales y complejos, así como técnicas de redes sociales para visualizar los principales comportamientos de las innovaciones tecnológicas cubanas. Los resultados finales manifiestan las potencialidades de los estudios métricos de patentes, al poder representar los desarrollos tecnológicos del país y sus contribuciones al sistema de ciencia e innovación tecnológica nacional.

773.1.#.t: Investigación Bibliotecológica. Archivonomía, bibliotecología e información (2017); Número Especial de Bibliometría; 271-289

773.1.#.o: http://rev-ib.unam.mx/ib/index.php/ib/index

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-8321; ISSN impreso: 0187-358X

310.#.#.a: Trimestral

264.#.1.b: Instituto de Investigaciones Bibliotecológicas y de la Información, UNAM

doi: https://doi.org/10.22201/iibi.24488321xe.2017.nesp1.57893

handle: 673a49be39f4929a

harvesting_date: 2023-06-20 17:00:00.0

856.#.0.q: application/pdf

file_creation_date: 2018-01-19 23:26:44.0

file_modification_date: 2018-01-19 23:26:44.0

file_creator: Mary Madera

file_name: 2a34c706387309847c296f848d2432218484b9ceda73602b36ab2007e34043b0.pdf

file_pages_number: 19

file_format_version: application/pdf; version=1.4

file_size: 557009

245.1.0.b: Metric behavior of patent granted in Cuba: its contribution to the national technological innovation

last_modified: 2023-06-20 17:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-nd

No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional

Díaz Pérez, Maidelyn; Giráldez Reyes, Raudel; Carrillo-calvet, Humberto Andrés

Instituto de Investigaciones Bibliotecológicas y de la Información, UNAM, publicado en Investigación Bibliotecológica: Archivonomía, Bibliotecología e Información, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Díaz Pérez, Maidelyn, et al. (2017). Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional. Investigación Bibliotecológica. Archivonomía, bibliotecología e información, 2017; Número Especial de Bibliometría; 271-289. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4142570

Descripción del recurso

Autor(es)
Díaz Pérez, Maidelyn; Giráldez Reyes, Raudel; Carrillo-calvet, Humberto Andrés
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Ciencias Sociales y Económicas
Título
Comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba: su contribución a la innovación tecnológica nacional
Fecha
2018-01-19
Resumen
Los estudios métricos de patentes desde finales del pasado xx son una valiosa herramienta de vigilancia científica tecnológica y de innovación, convirtiéndose en instrumento indispensable para conocer el comportamiento tecnológico internacional. Sin embargo, los estudios patentométricos no son aplicados óptimamente por todos los países, ni por todos los organismos internacionales, tampoco son aprovechadas todas las potencialidades que ofrecen estos estudios para conocer los diferentes contextos de las innovaciones tecnológicas de un país. Este artículo tiene como objetivo analizar el comportamiento métrico de las patentes concedidas en Cuba, aplicando una metodo logía propia que describe las principales innovaciones científico-tecnológicas patentadas por la Oficina Cubana de Propiedad Industrial. La metodología propuesta utiliza el software proIntec para la descarga, normalización, procesamiento, análisis y visualización de los datos procedentes de las patentes, y se aplica un amplio grupo de indicadores métricos relacionales y complejos, así como técnicas de redes sociales para visualizar los principales comportamientos de las innovaciones tecnológicas cubanas. Los resultados finales manifiestan las potencialidades de los estudios métricos de patentes, al poder representar los desarrollos tecnológicos del país y sus contribuciones al sistema de ciencia e innovación tecnológica nacional.
Tema
estudio patentométrico de innovaciones tecnológicas; redes de dominios tecnológicos; indicadores de colaboración tecnológica; Patentometric studies of technological innovations; Technological domain networks; Technological collaboration indicators
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-8321; ISSN impreso: 0187-358X

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