dor_id: 4107427
506.#.#.a: Público
590.#.#.d: Los artículos enviados a la Revista Mexicana de Física se someten a un estricto proceso de revisión llevado a cabo por árbitros anónimos, independientes y especializados en todo el mundo.
510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT), Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex), Scientific Electronic Library Online (SciELO), SCOPUS, Web Of Science (WoS)
561.#.#.u: http://www.fciencias.unam.mx/
650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra
336.#.#.b: info:eu-repo/semantics/article
336.#.#.3: Artículo de Investigación
336.#.#.a: Artículo
351.#.#.6: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index
351.#.#.b: Revista Mexicana de Física
351.#.#.a: Artículos
harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
270.1.#.d: México
590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/
883.#.#.a: Revistas UNAM
590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural
883.#.#.1: http://www.publicaciones.unam.mx/
883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM
850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
856.4.0.u: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/4038/4005
100.1.#.a: Figueroa Resendiz, B. E.; Maya Sánchez, M. C.; Reynoso Hernandez, J. A.
524.#.#.a: Figueroa Resendiz, B. E., et al. (2013). Common-source cold-FET used to validate noise figure measurements and on-wafer FET noise parameters. Revista Mexicana de Física; Vol 59, No 6 Nov-Dec: 560-0. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4107427
245.1.0.a: Common-source cold-FET used to validate noise figure measurements and on-wafer FET noise parameters
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Facultad de Ciencias, UNAM
264.#.0.c: 2013
264.#.1.c: 2013-01-01
653.#.#.a: Noise figure; noise parameters; cold-FET; source-pull tuner method; F method
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2013-01-01, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de rmf@ciencias.unam.mx
884.#.#.k: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/article/view/4038
001.#.#.#: oai:ojs.rmf.smf.mx:article/4038
041.#.7.h: eng
520.3.#.a: This work proposes the use of a common-source cold-FET with gate forward biased to validate the noise figure measurements and the noise parameters of on-wafer transistors. Since a common-source cold-FET behaves as an attenuator, its noise figure and noise parameters can be determined from S-parameters measurements. Three methods for determining the noise parameters of the common-source cold-FET are investigated. The first one uses the noise correlation matrix for passive devices (the S-parameters), the second one is the tuner method and the third one is the F 50method. The noise figure measured and the noise figure computed from S-parameters agree quite well. The noise parameters extracted with the tuner method and the F 50method show good correlation with the noise parameters computed with the S-parameters. These results validate both the noise figure measurements and the noise parameters extraction.
773.1.#.t: Revista Mexicana de Física; Vol 59, No 6 Nov-Dec (2013): 560-0
773.1.#.o: https://rmf.smf.mx/ojs/rmf/index
046.#.#.j: 2020-11-25 00:00:00.000000
022.#.#.a: 2683-2224 (digital); 0035-001X (impresa)
310.#.#.a: Bimestral
264.#.1.b: Sociedad Mexicana de Física, A.C.
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last_modified: 2020-11-27 00:00:00
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