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506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

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650.#.4.x: Multidisciplina

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270.#.#.d: MX

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520.3.#.a: La metrología juega un papel fundamental en el sostenimiento de una sociedad eficiente y tecnológicamente justa. El Centro Nacional de Metrología, CENAM, fue creado con el fin de apoyar al sistema metrológico nacional y entre sus funciones principales está el establecimiento y el mantenimiento de los patrones nacionales de medida y materiales de referencia certificados, mediante los cuales es posible asegurar la uniformidad entre las mediciones que se realizan en México. El avance de la tecnología y las exigencias de competitividad de los mercados fomentan el desarrollo tecnológico de los sectores productivos maduros, dinámicos y emergentes. La nanotecnología, considerada como una tecnología emergente, promete un gran potencial para aplicaciones y beneficios que pueden contribuir a la economía y a la protección de la salud y el ambiente en el país, pero también presenta retos en cuanto a la infraestructura metrológica que se requiere para sustentar su desarrollo. Este artículo muestra las actividades que realiza el CENAM por medio de su Programa de Metrología para las Nanotecnologías para atender de manera sistemática, las necesidades de medición en la nanoescala y plantea las perspectivas para el soporte de las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías.

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No entro en nada

No entro en nada 2

Artículo

Centro Nacional de Metrología

Lizardi Nieto, Victor José; González Rojano, Norma

Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM, publicado en Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Lizardi Nieto, Victor José, et al. (2016). Centro Nacional de Metrología. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 9 Núm. 16, 2016; 168-178. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/4147791

Descripción del recurso

Autor(es)
Lizardi Nieto, Victor José; González Rojano, Norma
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Multidisciplina
Título
Centro Nacional de Metrología
Fecha
2016-08-22
Resumen
La metrología juega un papel fundamental en el sostenimiento de una sociedad eficiente y tecnológicamente justa. El Centro Nacional de Metrología, CENAM, fue creado con el fin de apoyar al sistema metrológico nacional y entre sus funciones principales está el establecimiento y el mantenimiento de los patrones nacionales de medida y materiales de referencia certificados, mediante los cuales es posible asegurar la uniformidad entre las mediciones que se realizan en México. El avance de la tecnología y las exigencias de competitividad de los mercados fomentan el desarrollo tecnológico de los sectores productivos maduros, dinámicos y emergentes. La nanotecnología, considerada como una tecnología emergente, promete un gran potencial para aplicaciones y beneficios que pueden contribuir a la economía y a la protección de la salud y el ambiente en el país, pero también presenta retos en cuanto a la infraestructura metrológica que se requiere para sustentar su desarrollo. Este artículo muestra las actividades que realiza el CENAM por medio de su Programa de Metrología para las Nanotecnologías para atender de manera sistemática, las necesidades de medición en la nanoescala y plantea las perspectivas para el soporte de las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías.
Idioma
spa
ISSN
ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979

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