dor_id: 4147791
506.#.#.a: Público
590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares
510.0.#.a: Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Directory of Open Access Journals (DOAJ); Red Iberoamericana de Innovación y Conocimiento Científico (REDIB); Scientific Electronic Library Online (SciELO)
561.#.#.u: https://www.ceiich.unam.mx/0/index.php
650.#.4.x: Multidisciplina
336.#.#.b: article
336.#.#.3: Artículo de Investigación
336.#.#.a: Artículo
351.#.#.6: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
351.#.#.b: Mundo nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología
351.#.#.a: Artículos
harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
270.1.#.d: México
590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/
883.#.#.a: Revistas UNAM
590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural
883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/
883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial
850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México
856.4.0.u: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/56911/50493
100.1.#.a: Lizardi Nieto, Victor José; González Rojano, Norma
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245.1.0.a: Centro Nacional de Metrología
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
264.#.0.c: 2016
264.#.1.c: 2016-08-22
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico giandelgado@unam.mx
884.#.#.k: http://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/56911
001.#.#.#: 083.oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/56911
041.#.7.h: spa
520.3.#.a: La metrología juega un papel fundamental en el sostenimiento de una sociedad eficiente y tecnológicamente justa. El Centro Nacional de Metrología, CENAM, fue creado con el fin de apoyar al sistema metrológico nacional y entre sus funciones principales está el establecimiento y el mantenimiento de los patrones nacionales de medida y materiales de referencia certificados, mediante los cuales es posible asegurar la uniformidad entre las mediciones que se realizan en México. El avance de la tecnología y las exigencias de competitividad de los mercados fomentan el desarrollo tecnológico de los sectores productivos maduros, dinámicos y emergentes. La nanotecnología, considerada como una tecnología emergente, promete un gran potencial para aplicaciones y beneficios que pueden contribuir a la economía y a la protección de la salud y el ambiente en el país, pero también presenta retos en cuanto a la infraestructura metrológica que se requiere para sustentar su desarrollo. Este artículo muestra las actividades que realiza el CENAM por medio de su Programa de Metrología para las Nanotecnologías para atender de manera sistemática, las necesidades de medición en la nanoescala y plantea las perspectivas para el soporte de las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías.
773.1.#.t: Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología; Vol. 9 Núm. 16 (2016); 168-178
773.1.#.o: http://www.mundonaNo.unam.mx/ojs/index.php/nano/index
022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-5691; ISSN impreso: 2007-5979
310.#.#.a: Semestral
300.#.#.a: Páginas: 168-178
264.#.1.b: Centro de Investigaciones Interdisciplinarias en Ciencias y Humanidades, UNAM; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM; Centro de Nanociencias y Nanotecnología, UNAM
doi: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2016.16.56911
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