dor_id: 45438

506.#.#.a: Público

590.#.#.d: Los artículos enviados a la revista "Journal of Applied Research and Technology", se juzgan por medio de un proceso de revisión por pares

510.0.#.a: Scopus, Directory of Open Access Journals (DOAJ); Sistema Regional de Información en Línea para Revistas Científicas de América Latina, el Caribe, España y Portugal (Latindex); Indice de Revistas Latinoamericanas en Ciencias (Periódica); La Red de Revistas Científicas de América Latina y el Caribe, España y Portugal (Redalyc); Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (CONACyT); Google Scholar Citation

561.#.#.u: https://www.icat.unam.mx/

650.#.4.x: Ingenierías

336.#.#.b: article

336.#.#.3: Artículo de Investigación

336.#.#.a: Artículo

351.#.#.6: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart

351.#.#.b: Journal of Applied Research and Technology

351.#.#.a: Artículos

harvesting_group: RevistasUNAM

270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx

590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)

270.#.#.d: MX

270.1.#.d: México

590.#.#.b: Concentrador

883.#.#.u: https://revistas.unam.mx/catalogo/

883.#.#.a: Revistas UNAM

590.#.#.a: Coordinación de Difusión Cultural

883.#.#.1: https://www.publicaciones.unam.mx/

883.#.#.q: Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial

850.#.#.a: Universidad Nacional Autónoma de México

856.4.0.u: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart/article/view/471/467

100.1.#.a: Noriega, J. R.; Vera Marquina, A.; Acosta Enríquez, C.

524.#.#.a: Noriega, J. R., et al. (2010). Automation Of An I-V Characterization System. Journal of Applied Research and Technology; Vol. 8 Núm. 02. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/45438

245.1.0.a: Automation Of An I-V Characterization System

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

561.1.#.a: Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM

264.#.0.c: 2010

264.#.1.c: 2010-08-01

653.#.#.a: Electronic equipment; FETs; Transistor; Electronics engineering

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-SA 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/legalcode.es, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico gabriel.ascanio@icat.unam.mx

884.#.#.k: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart/article/view/471

001.#.#.#: 074.oai:ojs2.localhost:article/471

041.#.7.h: eng

520.3.#.a: En este trabajo se presenta la automatización de un instrumento I-V desarrollado para la caracterización de dispositivos electrónicos en aplicaciones tanto en docencia como en investigación. Este instrumento virtual puede ser usado para ilustrar los principios de la medición, instrumentación, fundamentos de la electrónica, programación, pruebas eléctricas de dispositivos semiconductores y caracterización de dispositivos discretos en substrato. Consiste de un electrómetro Keithley, modelo 6514, una fuente de voltaje programable BK Precision modelo 1770, medidor Keithley modelo 2400-LV, un multímetro digital Agilent modelo 34401 y una computadora PC con software LabVIEW.Los instrumentos son interconectados usando el protocolo IEEE 488. Las curvas características de los dispositivos son graficadas a partir de los datos medidos y previo procesamiento computacional. Este instrumento se usa en cursos de física electrónica y en cursos avanzados de diseño VLSI y en la caracterización de materiales semiconductores y dispositivos. Este artículo describe el diseño del instrumento, implementación y experimentos de caracterización.

773.1.#.t: Journal of Applied Research and Technology; Vol. 8 Núm. 02

773.1.#.o: https://jart.icat.unam.mx/index.php/jart

022.#.#.a: ISSN electrónico: 2448-6736; ISSN: 1665-6423

310.#.#.a: Bimestral

264.#.1.b: Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, UNAM

doi: https://doi.org/10.22201/icat.16656423.2010.8.02.471

harvesting_date: 2023-11-08 13:10:00.0

856.#.0.q: application/pdf

245.1.0.b: Automation Of An I-V Characterization System

last_modified: 2024-03-19 14:00:00

license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/legalcode.es

license_type: by-nc-sa

_deleted_conflicts: 2-b66ea4ddfb89e80b11da38d427a665a0

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