Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados
Sáenz Noval, J. J.; Roa Fuentes, E. F.
Facultad de Ingeniería, UNAM, publicado en Ingeniería, Investigación y Tecnología, y cosechado de Revistas UNAM
dor_id: 26040
506.#.#.a: Público
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561.#.#.u: https://www.ingenieria.unam.mx/
650.#.4.x: Ingenierías
336.#.#.b: article
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351.#.#.6: http://www.revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/index
351.#.#.b: Ingeniería, Investigación y Tecnología
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harvesting_group: RevistasUNAM
270.1.#.p: Revistas UNAM. Dirección General de Publicaciones y Fomento Editorial, UNAM en revistas@unam.mx
590.#.#.c: Open Journal Systems (OJS)
270.#.#.d: MX
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590.#.#.b: Concentrador
883.#.#.u: http://www.revistas.unam.mx/front/
883.#.#.a: Revistas UNAM
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856.4.0.u: http://www.revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/article/view/27891/25812
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245.1.0.a: Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados
502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México
561.1.#.a: Facultad de Ingeniería, UNAM
264.#.0.c: 2011
264.#.1.c: 2011-11-23
653.#.#.a: Mismatch; diseño analógico; variabilidad; rendimiento; modelos; reducción del canal
506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de esta obra pertenece a las instituciones editoras. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY-NC-ND 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2011-11-23, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio del correo electrónico marciaglez@dirfing.unam.mx
884.#.#.k: http://www.revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/article/view/27891
001.#.#.#: oai:ojs.phoenicis.tic.unam.mx:article/27891
041.#.7.h: spa
520.3.#.a: Los modelos estadísticos para circuitos integrados (ci) permiten estimar antes de la fabricación el porcentaje de dispositivos aceptables en el lote de fabricación. actualmente, pelgrom es el modelo estadístico más aceptado en la industria; sin embargo, se derivó de una tecnología micrométrica, la cual no garantiza confiabilidad en los procesos de fabricación nanométricos. este trabajo considera tres de los modelos estadísticos más relevantes en la industria y evalúa sus limitaciones y ventajas en el diseño analógico, de manera que el diseñador tenga un mejor criterio en su elección. además, se muestra cómo pueden utilizarse varios modelos estadísticos para cada una de las fases y propósitos de diseño.
773.1.#.t: Ingeniería Investigación y Tecnología; Vol 12, No 4 (2011)
773.1.#.o: http://www.revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/index
046.#.#.j: 2021-08-03 00:00:00.000000
022.#.#.a: ISSN impreso: 1405-7743
310.#.#.a: Trimestral
264.#.1.b: Facultad de Ingeniería, UNAM
758.#.#.1: http://www.revistas.unam.mx/index.php/ingenieria/index
handle: 754c3a2ae2f36c4b
harvesting_date: 2019-02-06 00:00:00.0
856.#.0.q: application/pdf
last_modified: 2021-08-12 16:00:00
license_url: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/legalcode.es
license_type: by-nc-nd
_deleted_conflicts: 2-cd869161f501a82b3bcbc9d9421a2557
Sáenz Noval, J. J.; Roa Fuentes, E. F.
Facultad de Ingeniería, UNAM, publicado en Ingeniería, Investigación y Tecnología, y cosechado de Revistas UNAM
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