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Artículo

Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados

Sáenz Noval, J. J.; Roa Fuentes, E. F.

Facultad de Ingeniería, UNAM, publicado en Ingeniería, Investigación y Tecnología, y cosechado de Revistas UNAM

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Cita

Sáenz Noval, J. J., et al. (2011). Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados. Ingeniería Investigación y Tecnología; Vol 12, No 4, 2011. Recuperado de https://repositorio.unam.mx/contenidos/26040

Descripción del recurso

Autor(es)
Sáenz Noval, J. J.; Roa Fuentes, E. F.
Tipo
Artículo de Investigación
Área del conocimiento
Ingenierías
Título
Análisis y evaluación de los modelos estadísticos para el diseño de circuitos integrados
Fecha
2011-11-23
Resumen
Los modelos estadísticos para circuitos integrados (ci) permiten estimar antes de la fabricación el porcentaje de dispositivos aceptables en el lote de fabricación. actualmente, pelgrom es el modelo estadístico más aceptado en la industria; sin embargo, se derivó de una tecnología micrométrica, la cual no garantiza confiabilidad en los procesos de fabricación nanométricos. este trabajo considera tres de los modelos estadísticos más relevantes en la industria y evalúa sus limitaciones y ventajas en el diseño analógico, de manera que el diseñador tenga un mejor criterio en su elección. además, se muestra cómo pueden utilizarse varios modelos estadísticos para cada una de las fases y propósitos de diseño.
Tema
Mismatch; diseño analógico; variabilidad; rendimiento; modelos; reducción del canal
Idioma
spa
ISSN
ISSN impreso: 1405-7743

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