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506.#.#.a: Público

650.#.4.x: Físico Matemáticas y Ciencias de la Tierra

336.#.#.b: other

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336.#.#.a: Registro de colección universitaria

351.#.#.b: Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT)

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270.1.#.p: Dirección General de Repositorios Universitarios. contacto@dgru.unam.mx

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100.1.#.a: Betsabee Marel Monroy Peláez

524.#.#.a: Dirección de Desarrollo Académico, Dirección General de Asuntos del Personal Académico (DGAPA). "Análisis de las propiedades ópticas y electrónicas de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices para aplicaciones en celdas solares y dispositivos fotónicos", Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT). En "Portal de datos abiertos UNAM" (en línea), México, Universidad Nacional Autónoma de México.

720.#.#.a: Betsabee Marel Monroy Peláez

245.1.0.a: Análisis de las propiedades ópticas y electrónicas de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices para aplicaciones en celdas solares y dispositivos fotónicos

502.#.#.c: Universidad Nacional Autónoma de México

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264.#.0.c: 2012

264.#.1.c: 2012

307.#.#.a: 2019-05-23 18:40:21.491

653.#.#.a: Propiedades electrónicas y ópticas de materiales; Ciencias de los materiales

506.1.#.a: La titularidad de los derechos patrimoniales de este recurso digital pertenece a la Universidad Nacional Autónoma de México. Su uso se rige por una licencia Creative Commons BY 4.0 Internacional, https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode.es, fecha de asignación de la licencia 2012, para un uso diferente consultar al responsable jurídico del repositorio por medio de contacto@dgru.unam.mx

041.#.7.h: spa

500.#.#.a: En este proyecto se analizarán las propiedades ópticas (absorción, emisión, reflectancia y transmitancia) y de transporte electrónico (tiempo de vida de los portadores de carga, fotoconductividad y fotodegradación) de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices._x000D_ Por ello se depositarán películas delgadas de nc-Si embebidos en nitruro de silicio o silicio amorfo por PECVD que presenten homogeneidad, estabilidad química y alta calidad óptica en áreas de 2 cm2. Se analizarán los mecanismos de recombinación radiativa del material mediante fotoluminiscencia resuelta en el tiempo (ns y fs) y fotoluminiscencia a bajas temperaturas (10 K), así como las propiedades de absorción, transmisión y reflexión de materiales nanocompuestos de silicio. El objetivo es correlacionar la nanoestructura (dispersión de tamaños y densidad de los nc-Si en la película) y composición química de los materiales con sus propiedades ópticas de absorción y/o de emisión de luz._x000D_ Con miras a la aplicación de estos materiales en dispositivos fotónicos y celdas solares, se realizarán estructuras electroluminiscentes utilizando como capa activa una película delgada de nitruro de silicio con nanocristales de silicio embebidos y como electrodo transparente películas delgadas de óxido de zinc impurificado con aluminio. También se estudiarán estos materiales como capas anti-reflejantes convertidoras de frecuencia a través de la modulación del índice de refracción y de la fotoluminiscencia de películas delgadas de nitruro de silicio con nc-Si. Por último, se estudiará el tiempo de vida media de los portadores de carga, la fotoconductividad y la fotodegradación en películas delgadas de silicio polimorfo con miras a aplicarlo como material absorbente en celdas solares a película delgada._x000D_

046.#.#.j: 2019-11-14 12:26:40.706

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No entro en nada

No entro en nada 2

Registro de colección universitaria

Análisis de las propiedades ópticas y electrónicas de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices para aplicaciones en celdas solares y dispositivos fotónicos

Instituto de Investigaciones en Materiales, UNAM, Portal de Datos Abiertos UNAM, Colecciones Universitarias

Licencia de uso

Procedencia del contenido

Entidad o dependencia
Instituto de Investigaciones en Materiales, UNAM
Entidad o dependencia
Dirección General de Asuntos del Personal Académico
Acervo
Colecciones Universitarias Digitales
Repositorio
Contacto
Dirección General de Repositorios Universitarios. contacto@dgru.unam.mx

Cita

Dirección de Desarrollo Académico, Dirección General de Asuntos del Personal Académico (DGAPA). "Análisis de las propiedades ópticas y electrónicas de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices para aplicaciones en celdas solares y dispositivos fotónicos", Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT). En "Portal de datos abiertos UNAM" (en línea), México, Universidad Nacional Autónoma de México.

Descripción del recurso

Título
Análisis de las propiedades ópticas y electrónicas de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices para aplicaciones en celdas solares y dispositivos fotónicos
Colección
Proyectos Universitarios PAPIIT (PAPIIT)
Responsable
Betsabee Marel Monroy Peláez
Fecha
2012
Descripción
En este proyecto se analizarán las propiedades ópticas (absorción, emisión, reflectancia y transmitancia) y de transporte electrónico (tiempo de vida de los portadores de carga, fotoconductividad y fotodegradación) de películas delgadas de nanocristales de silicio embebidos en diferentes matrices._x000D_ Por ello se depositarán películas delgadas de nc-Si embebidos en nitruro de silicio o silicio amorfo por PECVD que presenten homogeneidad, estabilidad química y alta calidad óptica en áreas de 2 cm2. Se analizarán los mecanismos de recombinación radiativa del material mediante fotoluminiscencia resuelta en el tiempo (ns y fs) y fotoluminiscencia a bajas temperaturas (10 K), así como las propiedades de absorción, transmisión y reflexión de materiales nanocompuestos de silicio. El objetivo es correlacionar la nanoestructura (dispersión de tamaños y densidad de los nc-Si en la película) y composición química de los materiales con sus propiedades ópticas de absorción y/o de emisión de luz._x000D_ Con miras a la aplicación de estos materiales en dispositivos fotónicos y celdas solares, se realizarán estructuras electroluminiscentes utilizando como capa activa una película delgada de nitruro de silicio con nanocristales de silicio embebidos y como electrodo transparente películas delgadas de óxido de zinc impurificado con aluminio. También se estudiarán estos materiales como capas anti-reflejantes convertidoras de frecuencia a través de la modulación del índice de refracción y de la fotoluminiscencia de películas delgadas de nitruro de silicio con nc-Si. Por último, se estudiará el tiempo de vida media de los portadores de carga, la fotoconductividad y la fotodegradación en películas delgadas de silicio polimorfo con miras a aplicarlo como material absorbente en celdas solares a película delgada._x000D_
Tema
Propiedades electrónicas y ópticas de materiales; Ciencias de los materiales
Identificador global
http://datosabiertos.unam.mx/DGAPA:PAPIIT:IB101612

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